台達AI六面檢查機，顯著改善客戶產品批退率

隨著科技的進步，電子產品體積能越做越小、越來越輕量，但功能與效能方面卻較以往更為齊全，而越精巧的元件，則需要更高的製程技術。台達針對小型被動元件檢測需求提出AI六面檢查機，其結合AOI + AI 外觀檢查機，確保外觀不良、有缺陷之產品檢出，可應用於被動元件、積體電路、LED、陶瓷導熱片等電子零件。

而小型元件中，又以高頻晶片陶瓷元件 (LTCC) 所需檢驗技術最高，其材料性質特殊，外觀檢測不易，通常使用於產品品質要求極高的無線通訊行業。針對客戶需求，台達將AI六面檢查機導入台灣無線通訊行業客戶製程，成功提升其高頻晶片陶瓷元件的不良品檢出率。

傳統的LTCC元件多為人員目檢，在檢查速度、精度及穩定性上，皆無法滿足產能及品質水準。後來改以AOI (自動光學檢查) 設備做檢測，其檢測效率大幅提升，但對於產品的變異性仍不易偵測出，除了容易造成誤判、漏判外、亦需要耗費大量的人力進行參數調整。台達AI六面檢查機保留原有AOI優勢外，更加入了深度學習的功能，當系統自動學習一定數量的正常產品及缺陷產品影像後，便能自動將正常產品及缺陷產品分類，有效克服AOI難以檢出的暗裂及微裂等瑕疵，提升產品檢出率與檢出速度，節省作業時間、並減少產品誤判率。

AI六面檢查機設備檢測流程：整批料件進入台達AI六面檢查機內建的震動盤內，經過整料後，放入玻璃盤進行帶動，高速檢測轉盤將電子料件運送至彩色CCD檢測站 (台達AOI檢測) 進行六個面的檢查 (前照檢測、下照檢測、右照檢測、左照檢測、後照檢測、上照檢測)，另外，台達AI六面檢查機預留兩個檢測站作為備用檢測使用，客戶可自行輸入電腦影像處理演算法於CCD檢測站，進行自動光學檢測，再經過台達AI人工智慧檢測系統，能有效克服AOI難以檢出的暗裂及微裂等瑕疵，最後進行分料作業，杜絕將不良產品流至客戶端。

客戶在導入台達AI六面檢查機後帶來的優勢包含：

• 提升產品檢出速度，節省作業時間：
台達檢測系統運行穩定，支援高速檢測，檢測速度可達8,000 pcs / min，大幅提升檢測效率，可針對客戶需求，量身打造檢測演算法，其AI檢測系統結合人工智慧，持續優化製程，並支援快速換線、強化離線檢出調整系統，優化人員調整效率，降低人工目檢造成的品質不穩定與人力成本。

• 提升產品檢出率，減少產品誤判率：
台達 AOI + AI 檢測系統含有白光及複合光源系統及人工智慧演算法，可偵測多種尺寸與材質，像是反光物及特殊缺陷 (暗裂及微裂等瑕疵) ，最小檢測元件尺寸可達0.4X0.2mm，加上檢查精度可達1um，有效提升不良品檢出率、降低批退率。

• 統計數據分析，MES連線管理：
支援統計系統，完整蒐集生產資訊，可匯出統計系統及圖表，並具備與製造執行系統 (MES) 連線功能，生產資訊即時上傳，提供製程改善依據，解決傳統無法完整蒐集、分析製程資訊的問題。

台達AI六面檢查機保留原有AOI優勢，並結合AI人工智慧，可應用在被動元件、積體電路、LED、陶瓷導熱片等反光物及特殊缺陷的電子零件，節省整體檢測作業時間、提升產品檢出率與檢出速度，減少產品誤判率，使客戶產品的批退率獲得顯著的改善。

更多有關台達AI六面檢查機資訊，請至官網：http://www.deltaww.com/products/CategoryListT1.aspx?CID=060902&PID=5150&hl=zh-tw&Name=SMT+%E7%B5%84%E4%BB%B6%E5%85%AD%E9%9D%A2%E6%AA%A2%E6%A9%9F%0D%0A