高精度模組化溫度控制器 DTDM 系列

高精度模組化溫度控制器 DTDM 系列,採用高度整合的模組化硬體設計,提供誤差 ±0.1% 以內的高精度溫度量測,以及 10 ms 溫度輸入採樣週期。支援 PID 串級控制、一對多控制、前饋控制、溫度校正折線表等多樣進階控制演算法,實現精密溫度控制。支援 EtherCAT 通訊協定,搭配總站收集功能,可將溫控群組內部狀態與資料快速回傳給上位機使用,便利擴充與系統整合。

高精度溫控器 DTDM 系列可滿足複雜且精密的溫度加工製程所需,特別適用於半導體晶圓加工設備,如化學氣相沉積系統 (CVD)、物理氣相沉積系統 (PVD)、氧化擴散爐、矽蝕刻機、原子層沉積系統 (ALD) 等。

【案例】半導體乾式蝕刻製程 【案例】半導體化學氣相沉積製程

產品介紹

產品特色
模組化設計,彈性擴充

支援高達 32 組 PID 控制迴路和 128 個輸出輸入

單一 DTDM 群組最多可串接 8 台量測機和 8 台 I/O 擴充模組, 輸入通道與控制迴路可彈性搭配與規劃,I/O 模組可靈活運用做為警報輸出或控制輸出,薄型精巧化設計,彈性配置,可減少安裝空間。
 

PID 串級控制

雙迴路運算可縮短控制反應時間

外/內兩個控制迴路串聯運作,縮短反應時間,快速消除因為遲滯效應或其他干擾造成的當前溫度與目標溫度的落差,達到穩定控溫的效果。

 

前饋控制

針對已知製程工藝所造成的溫度擾動,預先調整輸出控制

針對已知的加工工藝所造成的溫度擾動狀況,前饋控制可以為系統提供補償操縱值,在偵測到行為的當下即提前進行溫度補償,以維持溫度的穩定性。
 

溫度校正折線表 (Linearization Table)

消除感測器非線性導致的溫度讀數誤差

針對非線性的溫度誤差進行精細的補償校正。折線表提供 14 個溫度校正點以及兩種補償方式,可採轉折點或偏移量補償的方式進行校正,消除測溫點與實際加熱點的溫度誤差問題。

一對多控制

單一測溫點對應多通道加熱控制輸出

適合需要多點控溫的情境,例如陶瓷加熱板溫度控制。使用者僅需透過單一感測器量測到的溫度資訊,即可以自訂比例的方式控制多個加熱輸出,以此降低感測器的安裝數量、成本與工時。

狀態資料庫與邏輯運算

整合常用邏輯運算,提升反應速度

狀態資料庫 (Status Database) 包含 DTDM 模組內部的各項狀態訊息,例如 PV、SV、MV、DO 等,可從中選擇 4 種狀態資料在溫控器中完成簡單的邏輯運算與輸出,進而提升反應速度並降低上位機運算負載。

多通道 PV 比較警報功能

避免各通道間溫差過大,實現平穩控溫

當加熱控溫製程中需要將多個控溫點溫度差距控制在一定範圍內時,DTDM 提供多通道 PV (溫度) 比較警報功能,當被監控的通道間 PV 值差距大過設定的閾值 (threshold) 時,系統便會發出警報,並按照預設動作反應,輕鬆實現多通道溫差監控,自動化操作更便利。

輸入切換與輸入冗餘

精確量測與冗餘切換,確保設備正常運行

DTDM 支援輸入切換功能,當控溫範圍較大時 (例如 -200 ~ 1800℃ ),可使用兩種不同量測範圍的溫度感測器進行測量。系統會根據當下測量到的溫度,自動切換至最佳的感測器量測結果作為輸入來源,溫度測量更精確。 此外,若其中一個溫度感測器故障、斷線,系統會自動切換至運作正常的溫度感測器,避免感測器故障、測溫錯誤進而造成控溫誤差。

EtherCAT 通訊

高速傳輸,標準化易擴充整合

DTDM 系列支援 EtherCAT 通訊,易整合擴充、配置更具彈性,標準化設計更可加速上市時間;此系列 EtherCAT 通訊模組 (DTDM-ECAT) 具雙連接埠,無須額外的 HUB 即可輕鬆與上位機與其他 EtherCAT 裝置串接,快速傳遞命令與大量資料、讀取/寫入參數,同時可收集各擴充模組內的資訊並上傳至上位機。
 

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