數位驅動 虛實整合創新局
SEMICON 2025 國際半導體展
歡迎蒞臨 2025 9/10~12     展位:Q5438
台北南港展覽館 2 館 1 樓

Welcome to 2025 SEMICON Taiwan

數位雙生、AI 正在改變製造世界,半導體業該如何跟上這波浪潮?
今年台達以「數位驅動 虛實整合創新局」為題,帶來前後端設備整合、智慧軟體方案與資安防護,打造更聰明、更快、更安全的半導體解決方案

 
 
 
製程設備

高速多晶片先進封裝設備
FuzionSC™

  • 使用單一設備平台,即可將同一工序的各式晶片、被動元件或其他元件,貼裝在晶圓、或不同基材的載板上
  • 高於業界 3 倍速度,貼裝重複度小於 3 微米以內,靈活應對半導體製程的多樣化需求

晶圓磨邊機
DWEG-3012-4

  • 雙工位高精度研磨載台
  • 高精度雷射定位系統
  • 晶圓 - 砂輪光學視覺監控系統
  • 可選配台達輪廓儀並配置粗糙度量測模組,監控晶圓品質
  • 提供穩定安全機制設計與人性化研磨介面輸入

晶圓輪廓儀
WEP-3012-2E

  • 高速產能,每小時可量測約 60 ~ 120 pcs
  • 量測模組具校正對標功能,可搭配參數建置管理切換使用
  • 具模組選配功能,包含邊緣粗糙度量測、邊緣 AOI 等
  • 內建可快速設定上下弧長差值,避免研磨不對稱產品,影響後續製程容忍度

IR 孔洞檢查機
WIR 3010 2

  • 高速產能,每小時可檢測 60 ~ 160 pcs
  • 依據晶圓特性分類,自動調光優化調試參數
  • 缺陷深度面掃描 (Area Scan),定義缺陷大小
  • 瑕疵缺陷 AI 複判系統

晶圓分選機
SWST-600 / SWSST-120

  • 高速產能,每小時可篩選高達 60 - 150 pcs
  • 依據晶圓特性分類並檢測缺陷,實現最佳化製程配方
  • 依無塵室等級需求,提供多樣化傳輸系統、進出料設計
  • 多樣檢測模組選配 : 正背面 AOI 檢測、邊緣 AOI 檢測、邊緣輪廓檢測、IR 孔洞檢測、平坦度檢測、阻值檢測、OCR 檢查、PN type 檢查
 
系統解決方案
設備虛擬上線方案
Equipment Onboarding Suite
  • 虛擬設備配置與節拍優化
  • 虛擬製程驗證與單機驗證
  • AI 輔助設備狀態監控與作業引導
  • 設備即時監控與系統整合
  • 通訊標準整合與部署加速
虛擬機台開發平台
DIATwin

從模擬到驗證,數位雙生賦能先進封裝設備工站配置優化與分析,加速導入新製程

設備自動化控制系統 +(AI Agent)
DIAEAP+

支援多機台的生產控制 ,整合設備多元規格與通訊,實時掌握設備狀態,減少人為的量產疏失

半導體設備標準通訊及控制應用軟體
DIASECS

DIASECS 快速導入 SECS/GEM 標準解決方案,加速製程整合,提升工廠自動化,廣泛應用於半導體及電子產業

一站式產品資安服務與解決方案
  • 導入台達全方位資安服務,加速取得國際資安認證
  • 部署 DAA 應用程式允許清單,有效防禦進階惡意威脅
  • 運用 DAFA 自動化軟韌體分析工具,快速產出 SBOM、追蹤弱點並即時 CVE 警示

專家開講

日期 時間 研討會議題 主講者 地點
9/10 (三) 13:00~13:20 Smart Solutions for Next-Gen Manufacturing Shane Nunes (Universal Instruments, COO) Booth #Q5356
 
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